簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果：共2筆資料 檢索策略： "方劭云".ccommittee (精準) and ckeyword.raw="記憶體"


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    內建分散分析改善嵌入式記憶體良率
    • 電機工程系 /103/ 碩士
    • 研究生： 林浩暐   指導教授： 呂學坤
    • 近年來，超大型積體電路 (VLSI) 技術的快速發展使得電晶體的數量與記憶體細胞密度顯著增加，這個結果已經嚴重威脅到記憶體陣列的良率與可靠度，使得良率明顯下降。因此故障分散 (Fault Scram…
    • 點閱：245  下載：18 

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    使用部分時間冗餘技術提升嵌入式記憶體之可靠度和良率
    • 電機工程系 /105/ 碩士
    • 研究生： 鄭筠騰   指導教授： 呂學坤
    • 近年來，錯誤修正碼 (ECC) 技術與內建自我修復 (BISR) 技術皆被廣泛地使用來提升記憶體的良率與可靠度。錯誤修正碼技術以及內建自我修復技術主要分別用來處理軟錯誤與硬錯誤。而在過去有許…
    • 點閱：273  下載：8 
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